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Zeta 電位及其測定分析儀

發(fā)布日期: 2024-04-22
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Zeta 電位及其測定分析儀采用的是電泳光散射原理:帶電顆粒在外加電場作用下進(jìn)行運(yùn)動,電荷運(yùn)動使散射光產(chǎn)生頻率漂移(多普勒頻移),采用頻譜漂移分析技術(shù),從而可計(jì)算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。
  • 詳細(xì)內(nèi)容

     Zeta 電位及其測定分析儀是采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及FST技術(shù)來分析的麥克默瑞提克納米粒度儀和zeta電位一體機(jī),并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位,符合ISO標(biāo)準(zhǔn)。該儀器采用了高靈敏度測量技術(shù),可同時滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求,濃度范圍由0.001%到40%,可檢測粒徑從0.6nm到10μm,濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。

技術(shù)特點(diǎn)

1)采用的電動聲波振蕩技術(shù),該儀器可完成非凡的電動測量結(jié)果,從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限。

2)提供數(shù)據(jù)快速準(zhǔn)確而不需要稀釋樣品,從而避免了稀釋器材的使用和錯誤(樣品稀釋,Zeta電位將*改變);

3)該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時甚至可以進(jìn)行滴定操作;

4)堅(jiān)固的、多功能的、鍍金的Zeta浸入探頭可以用于樣品室或獨(dú)立的容器中;

5)自動滴定法用于簡單的IEP測量;

6)樣品可被強(qiáng)烈攪拌或混合,因此不會產(chǎn)生沉淀物;

7)高頻電場采用非常短的脈沖,因此樣品測量時不會產(chǎn)生錯誤;

8)可實(shí)時測量實(shí)際樣品;

9)不使用光學(xué)技術(shù),因此可以在任何pH值下分析固體、不透明或半透明樣品;

10)可測量水溶液、非水溶液分散系,分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測量1nm到50um的樣品顆粒;

11)該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動測量,不須特別的樣品池,樣品可隨時從任何現(xiàn)場或?qū)嶒?yàn)中獲取,可直接實(shí)時獲得理想的

測量原理:

    Zeta 電位及其測定分析儀采用電聲學(xué)原理來測量顆粒的電動特性。在分散系中加入1個高頻的電場,則帶電顆粒相相應(yīng)電場內(nèi)進(jìn)行電泳。如果在顆粒與液體之間產(chǎn)生1個密度差,則這種運(yùn)動會產(chǎn)生1個交互的聲波。采用該電場和對應(yīng)的聲波技術(shù)可對樣品進(jìn)行無干擾的測量,不會破壞樣品的特性。

    其他技術(shù)如微量電泳和電泳光散射技術(shù),須要樣品被稀釋,須要將原始濃度的樣品放大稀釋好幾倍。因此,*終用戶須在人為的狀態(tài)下分析顆粒樣品的特性,而不是獲得實(shí)際狀態(tài)下樣品的真實(shí)特性描述。并且,嚴(yán)格的光學(xué)聚焦和擴(kuò)展調(diào)整來適應(yīng)靜態(tài)的層裝樣品,使得微量電泳技術(shù)變得非常煩瑣,而大的直流電場可導(dǎo)致樣品的PH發(fā)生漂移。如果采用ZetaFinder型電位分析儀,則這些問題將不復(fù)存在。


 技術(shù)參數(shù)

1.適用粒度范圍:0.001-100μm

2.樣品體積:0.18~1.5ml

3.pH值測量范圍:1-14

4.電導(dǎo)率范圍:0-20 S/m

5.電泳遷移率范圍:10-10~10-7m2 /V.s

6.溫度控制:-5~110℃, ±0.1℃

7.電場強(qiáng)度:0~3.2 kV/m

8.電極:永性開放式電極,電極材料純鈀

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